測厚儀按照測量的方式不同,可大致分為:
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分:
點(diǎn)接觸式測厚儀
面接觸時(shí)測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同,又可分為以下幾種:
激光測厚儀
聲波測厚儀
涂層測厚儀
X射線測厚儀
白光干涉測厚儀
電解式測厚儀
管厚規(guī)
1、塑料上的銅、鉻層:建議用庫侖法測厚儀(會(huì)破壞鍍層)或X射線測厚儀(無損測量),如銅層在10m~200m可考慮電渦法測厚儀(無損測量)。
2、金屬件上鍍鋅層:如在鋼鐵基體上應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測厚儀(無損測量)。其它金屬基體用庫侖法測厚儀(會(huì)破壞鍍層)或X射線測厚儀(無損測量)。
3、鐵基體上的電泳漆,油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測厚儀(無損測量)。其它金屬基體上的電泳漆,油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的電渦法測厚儀(無損測量)。
4、干膜是己固化了的油漆涂層。
5、鍍鉻層參考2項(xiàng)、1項(xiàng)。
6、車內(nèi)外飾件噴漆只有用切鍥法(PIG,會(huì)破壞涂層),聲波法(無損測量)可測10微米以上涂層,但有時(shí)測不到。
7、價(jià)格:磁感應(yīng)法、電渦法0.6~3;庫侖法0.8~6;聲波法5.5~6;X射線測厚儀25~40。
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦測厚法,聲波測厚法。
測量注意事項(xiàng):
⒈在行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場,如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測厚法。
⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因?yàn)榘愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測量的讀數(shù)。
⒏在行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此聲波測厚儀在行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制中零件表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,是種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種業(yè)設(shè)備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔、冶金行業(yè)的板帶。
3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量度,具有數(shù)據(jù)輸出、意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等點(diǎn)。
5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
6、聲波測厚儀:聲波測厚儀是根據(jù)聲波脈沖反射原理來行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過測量聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使聲波以恒定速度在其內(nèi)傳播的各種材料均可采用此原理測量。
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